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鍍層測厚儀是基于什么原理測量的呢?

發(fā)布時間:2022-09-23   點擊次數(shù):984次
  鍍層測厚儀一般是由兩個激光位移傳感器上下對射的方式組成的,上下的兩個傳感器分別測量被測體上表面的位置和下表面的位置,通過計算得到被測體的厚度。鍍層測厚儀的優(yōu)點在于它采用的是非接觸的測量,相對接觸式測厚儀更精準,不會因為磨損而損失精度。相對超聲波測厚儀精度更高。相對X射線測厚儀沒有輻射污染。
  鍍層測厚儀是基于三角測距原理,使用集成式的三角測距傳感器測量出從安裝支架到物體表面的距離,進而根據(jù)支架的固定距離計算得出物體的厚度。
  激光束在被測物體表面上形成一個很小的光斑,成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏面上,產(chǎn)生探測其敏感面上光斑位置的電信號。當被測物體移動時,其表面上光斑相對成像物鏡的位置發(fā)生改變,相應(yīng)地其像點在光敏器件上的位置也要發(fā)生變化,進而可計算出被測物體的實際移動距離。
  兩個激光位移傳感器的激光對射,被測體放置在對射區(qū)域內(nèi),根據(jù)測量被測體上表面和下表面的距離,計算出被測體的厚度。
  鍍層測厚儀的基本組成是激光器、成像物鏡、光電位敏接收器、信號處理機測量結(jié)果顯示系統(tǒng)。激光束在被測物體表面上形成一個亮的光斑,成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上,產(chǎn)生探測其敏感面上光斑位置的電信號。當被測物體移動時,其表面上光斑相對成像物鏡的位置發(fā)生改變,相應(yīng)地成像點在光敏器件上的位置也要發(fā)生變化,兩者之間的關(guān)系:
  測厚計算公式
  式中:
  X、X`——分別是被測物位移和光敏器件上像斑的位移;
  L、L`、α——是系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)參數(shù),是根據(jù)具體使用要求而選定的。
  由此可見精確地測量X`就可以得到被測物體的位移量,這就是三角法測量位移的原理。
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